面密度测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.金属镀层面密度测试：电镀层单位面积质量、化学镀层面密度、真空镀膜面密度、厚度均匀性评估。

2.导电涂层面密度测试：导电银浆涂布量、导电胶单位面积质量、导电油墨涂层均匀性、电阻率相关性分析。

3.光学薄膜面密度测试：增透膜单位面积质量、反射膜面密度、滤光膜涂层均匀性、膜层厚度换算。

4.陶瓷基板涂层面密度测试：厚膜浆料印刷面密度、导热绝缘涂层单位面积质量、金属化层均匀性。

5.聚合物薄膜面密度测试：保护膜单位面积质量、离型膜涂层均匀性、光学胶膜面密度。

6.磁性材料面密度测试：磁记录介质涂层单位面积质量、磁性薄膜均匀性、各向异性评估。

7.半导体薄膜面密度测试：晶圆表面薄膜单位面积质量、外延层均匀性、介质层沉积一致性。

8.封装材料涂层面密度测试：底部填充胶单位面积质量、导热膏涂布均匀性、保护漆面密度。

9.电极材料面密度测试：电池极片活性物质面密度、集流体涂层均匀性、单位面积载量精确测量。

10.柔性电路材料面密度测试：柔性基材涂层单位面积质量、覆盖膜均匀性、导电线路铜厚一致性评估。

检测范围

硅片镀膜、柔性电路板、锂电池正负极片、触摸屏氧化铟锡导电玻璃、光学镜片镀膜、陶瓷电容器端电极、半导体晶圆薄膜、金属箔材、显示面板偏光片、太阳能电池减反射层、电子封装基板、磁性存储碟片、印刷电路板阻焊层、传感器敏感薄膜、射频器件金属化层

检测设备

1.高精度微量电子天平：用于直接测量样品单位面积的质量；具备极高的分辨率和重复性，是面密度测试的基础设备。

2.膜厚测试仪：通过光学或探针法测量薄膜厚度；可结合材料密度间接计算并验证面密度数据。

3.X射线荧光光谱仪：用于对镀层或涂层进行无损成分分析与厚度测量；特别适用于多层膜结构的面积质量分析。

4.扫描电子显微镜：用于观察涂层或薄膜的表面与截面形貌；辅助评估面密度均匀性与膜层结构完整性。

5.台阶仪：通过探针扫描测量薄膜台阶高度；用于局部厚度测量以评估面密度的分布均匀性。

6.激光扫描共聚焦显微镜：用于非接触式三维表面形貌测量；可精确获取薄膜厚度与表面粗糙度数据。

7.光谱椭偏仪：通过分析偏振光与薄膜相互作用后的变化来测量膜厚与光学常数；适用于透明与半透明薄膜的面密度相关研究。

8.轮廓仪：用于测量样品表面轮廓和薄膜厚度；可绘制面密度在样品表面上的分布曲线。

9.白光干涉仪：利用光干涉原理进行非接触式表面形貌和薄膜厚度测量；适用于大面积快速扫描与均匀性评估。

10.热重分析仪：通过在程序控温下测量样品质量随温度的变化；可用于分析涂层材料的热稳定性及其单位面积质量。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质